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[NT 60476] Jump To : 概要 | 书目信息 | 主题

莊紹勳

概要

作品:	13 作品在 13 项出版品 1 种语言

书目信息

小型金氧半電晶體的三維模擬與模式=quasi-3d simulation and modeling of small geometry mosfets by: 國立交通大學電子工程研究所; 莊紹勳 ([NT 13] Microfilm) , [著]

N型nos元件中因熱電子引起的氧化層介面傷害的元件與電路退化模擬之新方法=a new approach to simulating the device and circ... by: 交通大學電子工程研究所; 莊紹勳 ([NT 13] Microfilm) , [著]

次損米金氧半元件中改良的熱載子效應二維模擬=imporoved two-dimensional simulation of the hot carrier effect in submicron.. by: 交通大學電子工程研究所; 莊紹勳 ([NT 13] Microfilm) , [著]

次微米mos元件中反向短通道校應特性分析與模式` by: 交通大$電子工程研究所; 莊紹勳 ([NT 13] Microfilm)

快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析 by: 國立交通大學電子工程學系; 莊紹勳 ([NT 13] Microfilm) , [撰]

單調迭代法半導體元件方程式數值解 by: 劉晉良; 李義明; 莊紹勳 ([NT 13] Microfilm) , [指導]

交流工作下mos元件熱電子效應的暫態模擬與模式=transient simulation and modeling of hot electron effect in mosfet under... by: 國立交通大學電子工程研究所; 莊紹勳 ([NT 13] Microfilm) , [著]

深次微米n型mosfet元件與閘氧化層製程相關之熱電子可靠性探討 by: 莊紹勳; 陳尚志 ([NT 13] Microfilm) , [指導]

次損米針角植入式mos元件漏電流及熱載子效應之探討=investigation of the gate-induced drain leakage current and hot ... by: 交通大學電子工程研究所; 莊紹勳 ([NT 13] Microfilm) , [著]

不如閘汲極重疊結構ldd mos元件熱載子效應之探討=investigation of the hot carrier effect in ldd mos devices with ... by: 交通大學電子工程研究所; 莊紹勳 ([NT 13] Microfilm) , [著]

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主题

積體電路電子工程應用數學

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