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快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析

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國立交通大學電子工程學系

快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	莊紹勳
其他團體作者:	國立交通大學電子工程學系
出版地:	台北市
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
面頁冊數:	65頁 : 11x15公分;
標題:	電子工程 -
附註:	NSC85-2215-E009-053

快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析
莊紹勳

快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析 / 莊紹勳撰 ; 國立交通大學電子工程學系 - 台北市 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 - 65頁 ; 11x15公分.
NSC85-2215-E009-053.
電子工程

快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

804621381000342

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 621.381 4422

1.一般(Normal)

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