陳竹一

延遲障礙測試之研究=study on delay fault testing by: 中華工學院電機工程學系; 陳竹一 (Microfilm) , [著]

超大型/晶圓積體電路測試(ii)=vsli/wsi testing(二) by: 私立中華大學電機工程研究所; 陳竹一 (Microfilm)

鈍大型/晶圓積體電路測試之研究=fault-tolerance through reconfiguation of vlsi/wsi arrays by: 中華工學院電機工程學研究所; 陳竹一 (Microfilm) , [著]

錯誤測試影響品質預估之研究=study on the effect of error testing for quality-level prediction by: 中華工學院電機工程研究所; 陳竹一 (Microfilm) , [著]

鈍大型積體電路測試圖樣壓縮的研究=study on test pattern compaction for vlsi circuits by: 中華工學院電機工程學系; 陳竹一 (Microfilm) , [著]

良率預估之研究(一)=study on yield prediction(i) by: 中華工學院電機工程學系; 陳竹一 (Microfilm) , [著]

鈍大型積體電路測試嶄新障礙模型之研究=study on advanced fault modelling for vlsi circuit testing by: 中華工學院電機工程學系; 陳竹一 (Microfilm) , [著]