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超大型/晶圓積體電路測試(ii)=vsli/wsi testing(二)
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私立中華大學電機工程研究所
超大型/晶圓積體電路測試(ii)=vsli/wsi testing(二)
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
陳竹一
其他團體作者:
私立中華大學電機工程研究所
出版地:
台北市
出版者:
科學技術資料中心;
面頁冊數:
70頁 : 11x15公分;
附註:
NSC84-2215-E216-005
超大型/晶圓積體電路測試(ii)=vsli/wsi testing(二)
陳竹一
超大型/晶圓積體電路測試(ii)=vsli/wsi testing(二)
/ 陳竹一 ; 私立中華大學電機工程研究所 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 70頁 ; 11x15公分.
NSC84-2215-E216-005.
超大型/晶圓積體電路測試(ii)=vsli/wsi testing(二)
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20000105
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三樓視聽資料區
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
1
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典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
804448620000047
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3.不外借
微縮資料
MF 448.62 7529
1.一般(Normal)
在架
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