回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

鈍大型積體電路測試圖樣壓縮的研究=study on test patte... ~ 中華工學院電機工程學系

 

• 鈍大型積體電路測試圖樣壓縮的研究=study on test pattern compaction for vlsi circuits

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	陳竹一
  團體作者:	中華工學院電機工程學系
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1991
  面頁冊數:	35頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC80-0404-E216-001

• 鈍大型積體電路測試圖樣壓縮的研究=study on test pattern compaction for vlsi circuits
• 中華工學院電機工程學系
  
  鈍大型積體電路測試圖樣壓縮的研究=study on test pattern compaction for vlsi circuits / 中華工學院電機工程學系 ; 陳竹一 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1991. - 35頁 ; 11x15公分.
  NSC80-0404-E216-001.
  
  陳竹一

• 鈍大型積體電路測試圖樣壓縮的研究=study on test pattern compaction for vlsi circuits
• LDR:00449nhm 2200133 450 001 65263
  009 8510626
  100 $a  20100607d1991 0chiy0900 e
  101 $a  chi
  102 $a  tw
  200 1 $a  鈍大型積體電路測試圖樣壓縮的研究=study on test pattern compaction for vlsi circuits $f  中華工學院電機工程學系 $g  陳竹一 著
  210 $a  台北市 $c  科學技術資料中心 $d  1991
  215 $a  35頁 $d  11x15公分
  300 $a  NSC80-0404-E216-001
  702 $a  陳竹一 $4  著 $3  64034
  710 $a  中華工學院電機工程學系 $3  63765
  801 1 $a  TW $b  大葉大學 $c  19960806
  

筆 0 讀者評論

全部 三樓視聽資料區

館藏

• 1 筆 • 頁數 1 •
• 1

條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804448000000494	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料	MF 448 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

• 1 筆 • 頁數 1 •
• 1

評論

• 新增評論 分享你的心得

2008 傳技資訊 最佳瀏覽使用FireFox或IE7.0以上版本 建議您至http://moztw.org/或http://www.microsoft.com/taiwan/windows/ie/downloads/default.mspx下載 v3.1.1.2