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鈍大型積體電路測試嶄新障礙模型之研究=study on advanced...

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中華工學院電機工程學系

鈍大型積體電路測試嶄新障礙模型之研究=study on advanced fault modelling for vlsi circuit testing

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
其他作者:	陳竹一
團體作者:	中華工學院電機工程學系
出版地:	台北市
出版者:	科學技術資料中心;
出版年:	1992
面頁冊數:	38頁 : 11x15公分;
附註:	NSC81-0404-E216-101

鈍大型積體電路測試嶄新障礙模型之研究=study on advanced fault modelling for vlsi circuit testing
中華工學院電機工程學系

鈍大型積體電路測試嶄新障礙模型之研究=study on advanced fault modelling for vlsi circuit testing / 中華工學院電機工程學系 ; 陳竹一著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1992. - 38頁 ; 11x15公分.
NSC81-0404-E216-101.

陳竹一

鈍大型積體電路測試嶄新障礙模型之研究=study on advanced fault modelling for vlsi circuit testing
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

804621300000423

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 621.3 XXXX

1.一般(Normal)

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