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熱載子對n型金氧半電晶體雜訊及電性影響之分析

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清華大學電機工程研究所

熱載子對n型金氧半電晶體雜訊及電性影響之分析

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
其他作者:	龔正
團體作者:	清華大學電機工程研究所
出版地:	台北市
出版者:	科學技術資料中心;
出版年:	1991
面頁冊數:	91頁 : 11x15公分;
附註:	NSC80-0404-E007-029

熱載子對n型金氧半電晶體雜訊及電性影響之分析
清華大學電機工程研究所

熱載子對n型金氧半電晶體雜訊及電性影響之分析 / 清華大學電機工程研究所 ; 龔正著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1991. - 91頁 ; 11x15公分.
NSC80-0404-E007-029.

龔正

熱載子對n型金氧半電晶體雜訊及電性影響之分析
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

804448000000208

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 448 XXXX

1.一般(Normal)

在架

0

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