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超大型積體電路之整體測試資料產生

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中興大學資訊科學研究所

超大型積體電路之整體測試資料產生

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	王行健
其他團體作者:	中興大學資訊科學研究所
出版地:	台北市
出版者:	科學技術資料中心;
面頁冊數:	79頁 : 11x15公分;
附註:	NSC84-2215-E005-005

超大型積體電路之整體測試資料產生
王行健

超大型積體電路之整體測試資料產生 / 王行健 ; 中興大學資訊科學研究所 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 79頁 ; 11x15公分.
NSC84-2215-E005-005.

超大型積體電路之整體測試資料產生
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

804448610000025

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448.61 1010

1.一般(Normal)

在架

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