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電子元件與次系統在太空輻射環境之可靠度評量=reliability of... ~ 清華大學核子工程與工程物理研究

 

• 電子元件與次系統在太空輻射環境之可靠度評量=reliability of electronic device and subsystem in space radiation eoviroment

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  作者:	蔡春鴻
  其他團體作者:	清華大學核子工程與工程物理研究
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  面頁冊數:	66頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC84-2612-E007-004

• 電子元件與次系統在太空輻射環境之可靠度評量=reliability of electronic device and subsystem in space radiation eoviroment
• 蔡春鴻
  
  電子元件與次系統在太空輻射環境之可靠度評量=reliability of electronic device and subsystem in space radiation eoviroment / 蔡春鴻 ; 清華大學核子工程與工程物理研究 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 66頁 ; 11x15公分.
  NSC84-2612-E007-004.

• 電子元件與次系統在太空輻射環境之可靠度評量=reliability of electronic device and subsystem in space radiation eoviroment
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804449000000174	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 449 4453	1.一般(Normal)	在架	0

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