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多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計劃四:在mcm環境下之測試樣本產生...

台灣大學電機工程學系

多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計劃四:在mcm環境下之測試樣本產生研究=econonic test generation under mcm environment

Record Type:	Microfilm : monographic
Author:	林呈祥
Secondary Intellectual Responsibility:	台灣大學電機工程學系
Place of Publication:	台北市
Published:	科學技術資料中心;
Description:	28頁 : 11x15公分;
Notes:	NSC852221E002060

多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計劃四:在mcm環境下之測試樣本產生研究=econonic test generation under mcm environment
林呈祥

多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計劃四:在mcm環境下之測試樣本產生研究=econonic test generation under mcm environment / 林呈祥 ; 台灣大學電機工程學系 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 28頁 ; 11x15公分.
NSC852221E002060.

多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計劃四:在mcm環境下之測試樣本產生研究=econonic test generation under mcm environment
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