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半導體設備平台研究--子計畫二:系統機構及六自由度位置誤差量測=syst...
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台灣大學機械工程學研究所
半導體設備平台研究--子計畫二:系統機構及六自由度位置誤差量測=system mechanism & six degree freedom error measurement
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
范光照
其他團體作者:
台灣大學機械工程學研究所
出版地:
台北市
出版者:
科學技術資料中心;
面頁冊數:
99頁 : 11x15公分;
附註:
NSC852221E002052
半導體設備平台研究--子計畫二:系統機構及六自由度位置誤差量測=system mechanism & six degree freedom error measurement
范光照
半導體設備平台研究--子計畫二:系統機構及六自由度位置誤差量測=system mechanism & six degree freedom error measurement
/ 范光照 ; 台灣大學機械工程學研究所 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 99頁 ; 11x15公分.
NSC852221E002052.
半導體設備平台研究--子計畫二:系統機構及六自由度位置誤差量測=system mechanism & six degree freedom error measurement
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19991110
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全部
三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
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預約狀態
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804448650000016
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 448.65 4411 V1
1.一般(Normal)
在架
0
804448650000017
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 448.65 4411 V2
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