半導體設備平台研究--子計畫二:系統機構及六自由度位置誤差量測=syst...
台灣大學機械工程學研究所

 

  • 半導體設備平台研究--子計畫二:系統機構及六自由度位置誤差量測=system mechanism & six degree freedom error measurement
  • 紀錄類型: 微縮資料 : 單行本
    作者: 范光照
    其他團體作者: 台灣大學機械工程學研究所
    出版地: 台北市
    出版者: 科學技術資料中心;
    面頁冊數: 99頁 : 11x15公分;
    附註: NSC852221E002052
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
804448650000016 三樓視聽資料區 3.不外借 微縮資料(microform) MF 448.65 4411 V1 1.一般(Normal) 在架 0
804448650000017 三樓視聽資料區 3.不外借 微縮資料(microform) MF 448.65 4411 V2 1.一般(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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