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多晶片模組可測試設計及測試方法
~
交通大資訊科學研究所
多晶片模組可測試設計及測試方法
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
王國禛
其他團體作者:
交通大資訊科學研究所
出版地:
台北市
出版者:
科學技術資料中心;
面頁冊數:
104頁 : 11x15公分;
標題:
資訊科學 -
附註:
NSC84-2215-E009-055
多晶片模組可測試設計及測試方法
王國禛
多晶片模組可測試設計及測試方法
/ 王國禛 ; 交通大資訊科學研究所 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 104頁 ; 11x15公分.
NSC84-2215-E009-055.
資訊科學
多晶片模組可測試設計及測試方法
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19991105
筆 0 讀者評論
全部
三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
804020000000044
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 020 1063 V1
1.一般(Normal)
在架
0
804020000000071
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
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2 筆 • 頁數 1 •
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