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0.85微米面射型雷射可靠度與雜訊品質之研究

~

交通大學光電工程研究所

0.85微米面射型雷射可靠度與雜訊品質之研究

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	戴國仇
其他團體作者:	交通大學光電工程研究所
出版地:	台北市
出版者:	科學技術資料中心;
面頁冊數:	126頁 : 11x15公分;
標題:	光電學 -
附註:	NSC84-2215-E009-038

0.85微米面射型雷射可靠度與雜訊品質之研究
戴國仇

0.85微米面射型雷射可靠度與雜訊品質之研究 / 戴國仇 ; 交通大學光電工程研究所 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 126頁 ; 11x15公分.
NSC84-2215-E009-038.
光電學

0.85微米面射型雷射可靠度與雜訊品質之研究
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館藏

2 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

804333700000021

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 333.7 4562 V1

1.一般(Normal)

在架

0

804333700000024

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 333.7 4562 V2

1.一般(Normal)

在架

0

2 筆 • 頁數 1 •
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