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超大型積體電路的鋁合金導線良率和電遷移研究 - 子計畫一:鋁合金l線良率... ~ 徐清祥

 

• 超大型積體電路的鋁合金導線良率和電遷移研究 - 子計畫一:鋁合金l線良率及可靠性分析=yield and electromigration modeling...

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  作者:	徐清祥
  其他團體作者:	清大電機工程研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1996
  面頁冊數:	11x15公分;
  附註:	NSC83-0404-E007-030

• 超大型積體電路的鋁合金導線良率和電遷移研究 - 子計畫一:鋁合金l線良率及可靠性分析=yield and electromigration modeling...
• 徐清祥
  
  超大型積體電路的鋁合金導線良率和電遷移研究 - 子計畫一:鋁合金l線良率及可靠性分析=yield and electromigration modeling... / 徐清祥 著 ; 清大電機工程研究所 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1996. ; 11x15公分.
  NSC83-0404-E007-030.

• 超大型積體電路的鋁合金導線良率和電遷移研究 - 子計畫一:鋁合金l線良率及可靠性分析=yield and electromigration modeling...
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804621300000504	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 621.3 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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