語系:
繁體中文
English
日文
簡体中文
說明(常見問題)
登入
回首頁
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
~
唐麗英
積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
李威儀
其他作者:
唐麗英
其他作者:
黃建隆
出版地:
新竹市
出版者:
交通大學;
出版年:
1996
面頁冊數:
33頁 : 29x21公分;
標題:
積體電路 -
積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
李威儀
積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
/ 李威儀 指導 ; 唐麗英 指導 - 新竹市 : 交通大學, 1996. - 33頁 ; 29x21公分.
積體電路
唐麗英
積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
LDR
:00396nam 2200121 450
001
71033
009
8516612
100
$a
20100607d1996 0chiy0900 e
101
$a
chi
102
$a
tw
200
1
$a
積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
$f
李威儀 指導
$g
唐麗英 指導
$g
黃建隆 研究
210
$a
新竹市
$c
交通大學
$d
1996
215
$a
33頁
$d
29x21公分
606
$a
積體電路
$3
3206
700
$a
李威儀
$4
指導
$3
54565
702
$a
唐麗英
$4
指導
$3
40487
702
$a
黃建隆
$4
研究
$3
46381
801
1
$a
TW
$b
大葉大學
$c
19961122
筆 0 讀者評論
全部
三樓中文圖書區
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
818448878000018
三樓中文圖書區
1.圖書流通
學位論文(校外)(theses and dissertations)
T 448.878 4417
1.一般(Normal)
在架
0
1 筆 • 頁數 1 •
1
評論
新增評論
分享你的心得
Export
取書館別
處理中
...
變更密碼
登入