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積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究

~

唐麗英

積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究

纪录类型:	书目-语言数据,印刷品 : 单行本
作者:	李威儀
其他作者:	唐麗英
其他作者:	黃建隆
出版地:	新竹市
出版者:	交通大學;
出版年:	1996
面页册数:	33頁 : 29x21公分;
标题:	積體電路 -

積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
李威儀

積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究 / 李威儀指導 ; 唐麗英指導 - 新竹市 : 交通大學, 1996. - 33頁 ; 29x21公分.
積體電路

唐麗英

積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
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典藏地名称

馆藏流通类别

818448878000018

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1.圖書流通

學位論文(校外)(theses and dissertations)

T 448.878 4417

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