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超大型積電路測試與研究(ii)=test generation and ... ~ 劉濱達

 

• 超大型積電路測試與研究(ii)=test generation and design for vlsi circuits(ii)

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	劉濱達
  團體作者:	成功大學電機工程研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1992
  面頁冊數:	80頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC81-0404-E006-116

• 超大型積電路測試與研究(ii)=test generation and design for vlsi circuits(ii)
• 成功大學電機工程研究所
  
  超大型積電路測試與研究(ii)=test generation and design for vlsi circuits(ii) / 成功大學電機工程研究所 ; 劉濱達 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1992. - 80頁 ; 11x15公分.
  NSC81-0404-E006-116.
  
  劉濱達

• 超大型積電路測試與研究(ii)=test generation and design for vlsi circuits(ii)
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804448000000944	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 448 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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