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超大型積體電路測試方法之研究=a study on vlsi testing

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成功大學電機工程研究所

超大型積體電路測試方法之研究=a study on vlsi testing

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	王駿發
其他團體作者:	成功大學電機工程研究所
出版地:	台北市
出版者:	科學技術資料中心;
出版年:	1992
面頁冊數:	127頁 : 11x15公分;
附註:	NSC81-0404-E006-115

超大型積體電路測試方法之研究=a study on vlsi testing
王駿發

超大型積體電路測試方法之研究=a study on vlsi testing / 王駿發著 ; 成功大學電機工程研究所 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1992. - 127頁 ; 11x15公分.
NSC81-0404-E006-115.

超大型積體電路測試方法之研究=a study on vlsi testing
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館藏

2 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

804448000000942

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448 XXXX V1

1.一般(Normal)

在架

0

804448000000943

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448 XXXX V2

1.一般(Normal)

在架

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