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自動設計驗證及測試樣本產生=automatic design verif...

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台灣大學電機工程學系

自動設計驗證及測試樣本產生=automatic design verification and test pattern generation

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
其他作者:	林呈祥
團體作者:	台灣大學電機工程學系
出版地:	台北市
出版者:	科學技術資料中心;
出版年:	1992
面頁冊數:	32頁 : 11x15公分;
附註:	NSC81-0404-E002-115

自動設計驗證及測試樣本產生=automatic design verification and test pattern generation
台灣大學電機工程學系

自動設計驗證及測試樣本產生=automatic design verification and test pattern generation / 台灣大學電機工程學系 ; 林呈祥著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1992. - 32頁 ; 11x15公分.
NSC81-0404-E002-115.

林呈祥

自動設計驗證及測試樣本產生=automatic design verification and test pattern generation
LDR:00444nhm 2200133 450 001 70067
009 8515445
100 $a 20100607d1992 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 自動設計驗證及測試樣本產生=automatic design verification and test pattern generation $f 台灣大學電機工程學系 $g 林呈祥著
210 $a 台北市 $c 科學技術資料中心 $d 1992
215 $a 32頁 $d 11x15公分
300 $a NSC81-0404-E002-115
702 $a 林呈祥 $4 著 $3 60943
710 $a 台灣大學電機工程學系 $3 62772
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 19960919

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

804448000000928

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448 XXXX

1.一般(Normal)

在架

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