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檢定微晶片品質變異根源之研究=research on the ident...

交通大學工業工程系

檢定微晶片品質變異根源之研究=research on the identification of source of variation the quality of micre-chips

檢定微晶片品質變異根源之研究=research on the identification of source of variation the quality of micre-chips
交通大學工業工程系

檢定微晶片品質變異根源之研究=research on the identification of source of variation the quality of micre-chips / 交通大學工業工程系 ; 唐麗英著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1992. - 40頁 ; 11x15公分.
NSC81-0415-E009-001.

唐麗英

檢定微晶片品質變異根源之研究=research on the identification of source of variation the quality of micre-chips
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210 $a 台北市 $c 科學技術資料中心 $d 1992
215 $a 40頁 $d 11x15公分
300 $a NSC81-0415-E009-001
702 $a 唐麗英 $4 著 $3 40487
702 $a 許錫美 $4 著 $3 63278
710 $a 交通大學工業工程系 $3 64979
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 19960917