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應用方形金屬共振腔與導波管技術量測薄片均勻介質之介電常數與厚度=diel...
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余政杰

 

  • 應用方形金屬共振腔與導波管技術量測薄片均勻介質之介電常數與厚度=dielectric constant and thickness measurements of ...
  • 紀錄類型: 微縮資料 : 單行本
    其他作者: 余政杰
    團體作者: 台北工業專科學校電子工程科
    出版地: 台北市
    出版者: 科學技術資料中心;
    出版年: 1993
    面頁冊數: 206頁 : 11x15公分;
    附註: NSC82-0404-E027-019
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  • 3 筆 • 頁數 1 •
 
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