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電流測試法之研究及其在多晶片模組上的應用=on the iddq tes... ~ 成功大學電機工程研究所

 

• 電流測試法之研究及其在多晶片模組上的應用=on the iddq testing and its application to multiple chip modules

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	李昆忠
  團體作者:	成功大學電機工程研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1993
  面頁冊數:	64頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC82-0404-E006-131

• 電流測試法之研究及其在多晶片模組上的應用=on the iddq testing and its application to multiple chip modules
• 成功大學電機工程研究所
  
  電流測試法之研究及其在多晶片模組上的應用=on the iddq testing and its application to multiple chip modules / 成功大學電機工程研究所 ; 李昆忠 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1993. - 64頁 ; 11x15公分.
  NSC82-0404-E006-131.
  
  李昆忠

• 電流測試法之研究及其在多晶片模組上的應用=on the iddq testing and its application to multiple chip modules
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804621300000211	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 621.3 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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