回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫四:多晶片模組可測性設計與偵錯=d... ~ 台灣大學電機工程學研究所

 

• 多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫四:多晶片模組可測性設計與偵錯=deisgn for testability and diagnosis in multichip...

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	郭斯彥
  團體作者:	台灣大學電機工程學研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1994
  面頁冊數:	80頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC83-0404-E002-058

• 多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫四:多晶片模組可測性設計與偵錯=deisgn for testability and diagnosis in multichip...
• 台灣大學電機工程學研究所
  
  多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫四:多晶片模組可測性設計與偵錯=deisgn for testability and diagnosis in multichip... / 台灣大學電機工程學研究所 ; 郭斯彥 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1994. - 80頁 ; 11x15公分.
  NSC83-0404-E002-058.
  
  郭斯彥

• 多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫四:多晶片模組可測性設計與偵錯=deisgn for testability and diagnosis in multichip...
• LDR:00504nhm 2200133 450 001 67303
  009 8512671
  100 $a  20100607d1994 0chiy0900 e
  101 $a  chi
  102 $a  tw
  200 1 $a  多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫四:多晶片模組可測性設計與偵錯=deisgn for testability and diagnosis in multichip... $f  台灣大學電機工程學研究所 $g  郭斯彥 著
  210 $a  台北市 $c  科學技術資料中心 $d  1994
  215 $a  80頁 $d  11x15公分
  300 $a  NSC83-0404-E002-058
  702 $a  郭斯彥 $4  著 $3  64012
  710 $a  台灣大學電機工程學研究所 $3  62800
  801 1 $a  TW $b  大葉大學 $c  19960829
  

筆 0 讀者評論

全部 三樓視聽資料區

館藏

• 1 筆 • 頁數 1 •
• 1

條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804621300000150	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 621.3 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

• 1 筆 • 頁數 1 •
• 1

評論

• 新增評論 分享你的心得

2008 傳技資訊 最佳瀏覽使用FireFox或IE7.0以上版本 建議您至http://moztw.org/或http://www.microsoft.com/taiwan/windows/ie/downloads/default.mspx下載 v3.1.1.2