多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫四:多晶片模組可測性設計與偵錯=d...
台灣大學電機工程學研究所

 

  • 多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫四:多晶片模組可測性設計與偵錯=deisgn for testability and diagnosis in multichip...
  • 紀錄類型: 微縮資料 : 單行本
    其他作者: 郭斯彥
    團體作者: 台灣大學電機工程學研究所
    出版地: 台北市
    出版者: 科學技術資料中心;
    出版年: 1994
    面頁冊數: 80頁 : 11x15公分;
    附註: NSC83-0404-E002-058
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
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