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超大型積體電路之測試與可測試研究=vlsi testing and de...
~
交通大學電子工程研究所
超大型積體電路之測試與可測試研究=vlsi testing and design for testability
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
其他作者:
李崇仁
團體作者:
交通大學電子工程研究所
出版地:
台北市
出版者:
科學技術資料中心;
出版年:
1992
面頁冊數:
322頁 : 11x15公分;
附註:
NSC81-0404-E009-136
超大型積體電路之測試與可測試研究=vlsi testing and design for testability
交通大學電子工程研究所
超大型積體電路之測試與可測試研究=vlsi testing and design for testability
/ 交通大學電子工程研究所 ; 李崇仁 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1992. - 322頁 ; 11x15公分.
NSC81-0404-E009-136.
李崇仁
超大型積體電路之測試與可測試研究=vlsi testing and design for testability
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大葉大學
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19960814
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三樓視聽資料區
館藏
4 筆 • 頁數 1 •
1
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804448000000650
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