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次損米元件可靠性量測技術整合及其應用=characterization ... ~ 交通大學電子工程研究所

 

• 次損米元件可靠性量測技術整合及其應用=characterization integration for submicron device reliability and its applications

• 纪录类型:	[NT 13] Microfilm : 单行本
  其他作者:	陳明哲
  团体作者:	交通大學電子工程研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1993
  面页册数:	80頁 : 11x15公分;
  附注:	NSC82-0404-E009-232

• 次損米元件可靠性量測技術整合及其應用=characterization integration for submicron device reliability and its applications
• 交通大學電子工程研究所
  
  次損米元件可靠性量測技術整合及其應用=characterization integration for submicron device reliability and its applications / 交通大學電子工程研究所 ; 陳明哲 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1993. - 80頁 ; 11x15公分.
  NSC82-0404-E009-232.
  
  陳明哲

• 次損米元件可靠性量測技術整合及其應用=characterization integration for submicron device reliability and its applications
• LDR:00487nhm 2200133 450 001 65742
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条形码号	典藏地名称	馆藏流通类别	数据类型	索书号	使用类型	借阅状态	预约状态	Opac备注	附件
804621381000034	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 621.381 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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