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多晶片模組之可測性設計與偵錯環境=design for testabil...

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台灣大學電機工程學系

多晶片模組之可測性設計與偵錯環境=design for testability and diagnosis in multichip modules

Record Type:	Microfilm : monographic
Secondary Intellectual Responsibility:	郭斯彥
Corporate Body:	台灣大學電機工程學系
Place of Publication:	台北市
Published:	科學技術資料中心;
Year of Publication:	1993
Description:	82頁 : 11x15公分;
Notes:	NSC82-0404-E002-165

多晶片模組之可測性設計與偵錯環境=design for testability and diagnosis in multichip modules
台灣大學電機工程學系

多晶片模組之可測性設計與偵錯環境=design for testability and diagnosis in multichip modules / 台灣大學電機工程學系 ; 郭斯彥著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1993. - 82頁 ; 11x15公分.
NSC82-0404-E002-165.

郭斯彥

多晶片模組之可測性設計與偵錯環境=design for testability and diagnosis in multichip modules
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