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moire顯微測量3d物體其像差分析及自動測試=micro object... ~ 中央大學光電科學研究所

 

• moire顯微測量3d物體其像差分析及自動測試=micro object 3d measurement & abenation analysis by moire & moire & pattern...

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	張榮森
  團體作者:	中央大學光電科學研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1991
  面頁冊數:	46頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC80-0422-E008-009

• moire顯微測量3d物體其像差分析及自動測試=micro object 3d measurement & abenation analysis by moire & moire & pattern...
• 中央大學光電科學研究所
  
  moire顯微測量3d物體其像差分析及自動測試=micro object 3d measurement & abenation analysis by moire & moire & pattern... / 中央大學光電科學研究所 ; 張榮森 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1991. - 46頁 ; 11x15公分.
  NSC80-0422-E008-009.
  
  張榮森

• moire顯微測量3d物體其像差分析及自動測試=micro object 3d measurement & abenation analysis by moire & moire & pattern...
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804337800000041	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 337.8 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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