交流工作下mos元件熱電子效應的暫態模擬與模式=transient si...
國立交通大學電子工程研究所

 

  • 交流工作下mos元件熱電子效應的暫態模擬與模式=transient simulation and modeling of hot electron effect in mosfet under...
  • 紀錄類型: 微縮資料 : 單行本
    其他作者: 莊紹勳
    團體作者: 國立交通大學電子工程研究所
    出版地: 台北市
    出版者: 科學技術資料中心;
    出版年: 1991
    面頁冊數: 86頁 : 11x15公分;
    附註: NSC80-0404-E009-078
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
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