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量子井及短通道元件之特性及可靠性研究=characterization ...

交通大學電子所

量子井及短通道元件之特性及可靠性研究=characterization and reliability of quantum well and short channel device

量子井及短通道元件之特性及可靠性研究=characterization and reliability of quantum well and short channel device
交通大學電子所

量子井及短通道元件之特性及可靠性研究=characterization and reliability of quantum well and short channel device / 交通大學電子所 ; 張俊彥著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1991. - 126頁 ; 11x15公分.
NSC80-0404-E009-044.

張俊彥

量子井及短通道元件之特性及可靠性研究=characterization and reliability of quantum well and short channel device
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