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容錯讀寫型可程式邏輯簇之真時偵錯設計=concurrent testab...

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張慶元

容錯讀寫型可程式邏輯簇之真時偵錯設計=concurrent testable design for fault-tolerant ram-based plas

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	張慶元
其他團體作者:	清華大學電機所
出版地:	台北市
出版者:	科學技術資料中心;
出版年:	1991
面頁冊數:	42頁 : 11x15公分;
附註:	NSC80-0404-E007-018

容錯讀寫型可程式邏輯簇之真時偵錯設計=concurrent testable design for fault-tolerant ram-based plas
張慶元

容錯讀寫型可程式邏輯簇之真時偵錯設計=concurrent testable design for fault-tolerant ram-based plas / 張慶元著 ; 清華大學電機所 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1991. - 42頁 ; 11x15公分.
NSC80-0404-E007-018.

容錯讀寫型可程式邏輯簇之真時偵錯設計=concurrent testable design for fault-tolerant ram-based plas
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801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 19960705

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

804448000000144

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448 XXXX

1.一般(Normal)

在架

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