良率模式應用於積體電路生產線製造能力評估之研究
張永佳

 

  • 良率模式應用於積體電路生產線製造能力評估之研究
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    作者: 張永佳
    其他作者: 張永佳
    出版地: 新竹市
    出版者: 交通大學;
    出版年: 1994
    面頁冊數: 60頁 : 29x21公分;
    標題: 積體電路 -
    附註: 李威儀 指導教授唐麗英 指導教授李威儀 指導教授
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
818448878000015 三樓中文圖書區 1.圖書流通 學位論文(校外)(theses and dissertations) T 448.878 1132-A 1.一般(Normal) 在架 0
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