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矽基半導體的電容量測特性之研究 = The Properties of ...

吳承諺

矽基半導體的電容量測特性之研究 = The Properties of Capacitance Measurement in the Silicon-based Semiconductors

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	The Properties of Capacitance Measurement in the Silicon-based Semiconductors
作者:	吳承諺,
出版地:	彰化縣大村鄉
出版者:	大葉大學;
出版年:	2018
版本:	初版
面頁冊數:	63葉 : 圖, 表 ; 30公分;
書目、索引、附錄等註:	參考書目 : 葉63
學位論文註:	碩士論文：大葉大學電機工程學系碩士班
ISBN:	精裝贈送
中國圖書分類法:	EE-106

矽基半導體的電容量測特性之研究 = The Properties of Capacitance Measurement in the Silicon-based Semiconductors
吳, 承諺

矽基半導體的電容量測特性之研究 = The Properties of Capacitance Measurement in the Silicon-based Semiconductors / 吳承諺撰 - 初版. - 彰化縣大村鄉 : 大葉大學, 2018. - 63葉 ; 圖, 表 ; 30公分.
參考書目 : 葉63.

矽基半導體的電容量測特性之研究 = The Properties of Capacitance Measurement in the Silicon-based Semiconductors
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314 $a 指導教授：范榮權
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328 $a 碩士論文：大葉大學電機工程學系碩士班
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