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氧化鋅薄膜半導體能陷之研究 = The Study of Defect ...
~
王尊
氧化鋅薄膜半導體能陷之研究 = The Study of Defect in ZnO Thin film Semiconductor
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
The Study of Defect in ZnO Thin film Semiconductor
作者:
王尊,
出版地:
彰化縣大村鄉
出版者:
大葉大學;
出版年:
2015
版本:
初版
面頁冊數:
45葉 : 圖, 表 ; 30公分;
書目、索引、附錄等註:
參考書目 : 43-45葉
學位論文註:
碩士論文：大葉大學電機工程學系碩士班
ISBN:
精裝 贈送
中國圖書分類法:
EE-103
氧化鋅薄膜半導體能陷之研究 = The Study of Defect in ZnO Thin film Semiconductor
王, 尊
氧化鋅薄膜半導體能陷之研究
= The Study of Defect in ZnO Thin film Semiconductor / 王尊 撰 - 初版. - 彰化縣大村鄉 : 大葉大學, 2015. - 45葉 ; 圖, 表 ; 30公分.
參考書目 : 43-45葉.
氧化鋅薄膜半導體能陷之研究 = The Study of Defect in ZnO Thin film Semiconductor
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指導教授：范榮權
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碩士論文：大葉大學電機工程學系碩士班
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全部
地下室密集書庫區
二樓博碩士學位論文區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
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條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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附件
80045928
地下室密集書庫區
3.不外借
碩士學位論文(校內)(master's thesis)
DT EE-103 1080
1.一般(Normal)
在架
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80051074
二樓博碩士學位論文區
1.圖書流通
碩士學位論文(校內)(master's thesis)
DT EE-103 1080 C2
1.一般(Normal)
在架
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2 筆 • 頁數 1 •
1
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