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氧化物半導體缺陷之研究 = The Study of Defects i...

~

張裕盈

氧化物半導體缺陷之研究 = The Study of Defects in Oxide Semiconductor

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	The Study of Defects in Oxide Semiconductor
作者:	張裕盈,
出版地:	彰化縣大村鄉
出版者:	大葉大學;
出版年:	2013
版本:	初版
面頁冊數:	44葉 : 圖, 表 ; 30公分;
標題:	電機工程 -
書目、索引、附錄等註:	含參考書目：葉42-44
學位論文註:	碩士論文：大葉大學電機工程碩士班
ISBN:	精裝贈送
中國圖書分類法:	EE-102

氧化物半導體缺陷之研究 = The Study of Defects in Oxide Semiconductor
張, 裕盈

氧化物半導體缺陷之研究 = The Study of Defects in Oxide Semiconductor / 張裕盈撰 - 初版. - 彰化縣大村鄉 : 大葉大學, 2013. - 44葉 ; 圖, 表 ; 30公分.
含參考書目：葉42-44.
電機工程

氧化物半導體缺陷之研究 = The Study of Defects in Oxide Semiconductor
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210 $a 彰化縣大村鄉 $c 大葉大學 $d 2013
215 0 $a 44葉 $c 圖, 表 $d 30公分
314 $a 指導教授：范榮權
320 $a 含參考書目：葉42-44
328 $a 碩士論文：大葉大學電機工程碩士班
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館藏

2 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

80037978

地下室密集書庫區

3.不外借

碩士學位論文(校內)(master's thesis)

DT EE-102 1131

1.一般(Normal)

在架

0

80037979

二樓博碩士學位論文區

1.圖書流通

碩士學位論文(校內)(master's thesis)

DT EE-102 1131 C2

1.一般(Normal)

在架

0

2 筆 • 頁數 1 •
1

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