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以電子顯微鏡分析半導體晶片結面結構

~

廖韋程

以電子顯微鏡分析半導體晶片結面結構

纪录类型:	书目-语言数据,印刷品 : 单行本
作者:	廖韋程,
出版地:	彰化縣大村鄉
出版者:	大葉大學材料科學與工程學系;
出版年:	2011
版本:	初版
面页册数:	28葉 : 圖, 表 ; 30公分;
标题:	工程材料 -
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ISBN:	平裝贈送
[NT 15000415] null:	440.3

以電子顯微鏡分析半導體晶片結面結構
廖, 韋程

以電子顯微鏡分析半導體晶片結面結構 / 廖韋程撰 - 初版. - 彰化縣大村鄉 : 大葉大學材料科學與工程學系, 2011. - 28葉 ; 圖, 表 ; 30公分.
參考書目 : 葉28.
工程材料

以電子顯微鏡分析半導體晶片結面結構
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314 $a 指導教授 : 宋皇輝
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馆藏

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典藏地名称

馆藏流通类别

80023949

二樓學生專題報告區

1.圖書流通

學生專題報告(student report)

GR 440.3 0042

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