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High resolution X-ray diffractometry...

~

Bowen, D. Keith (1940-)

High resolution X-ray diffractometry and topography

レコード種別:	言語・文字資料 (印刷物) : 単行資料
[NT 15000414] null:	548.83
タイトル / 著者:	High resolution X-ray diffractometry and topography/ D. Keith Bowen and Brian K. Tanner.
著者:	Bowen, D. Keith
その他の著者:	Tanner, B. K.
出版された:	London : Taylor & Francis, 1998.
記述:	x, 252 p. : ill.; 28 cm.
主題:	X-ray crystallography.
主題:	X-rays - Diffraction.
主題:	Crystals.
国際標準図書番号 (ISBN) :	0850667585
[NT 15000227] null:	Includes bibliographical references and index.
電子資源:	http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0731/98136331-d.html

High resolution X-ray diffractometry and topography
Bowen, D. Keith1940-

High resolution X-ray diffractometry and topographyD. Keith Bowen and Brian K. Tanner. - LondonTaylor & Francis1998. - x, 252 p.ill.28 cm.

Includes bibliographical references and index.

ISBN: 0850667585NTD 4,601Subjects--Topical Terms:

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X-ray crystallography.

Dewey Class. No.: 548.83

High resolution X-ray diffractometry and topography
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