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應用模糊失效模式與效應分析於半導體晶圓製程之研究 = Applying ...
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陳隆壹
應用模糊失效模式與效應分析於半導體晶圓製程之研究 = Applying fuzzy failure mode and effects analysis on the process of semiconductor foundry
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Applying fuzzy failure mode and effects analysis on the process of semiconductor foundry
作者:
陳隆壹,
出版地:
彰化縣大村鄉
出版者:
大葉大學;
出版年:
2010
版本:
初版
面頁冊數:
85葉 : 圖, 表 ; 30x22公分;
標題:
工業工程 -
書目、索引、附錄等註:
參考書目 : 葉71-78
學位論文註:
碩士論文 : 大葉大學工業工程與科技管理學系碩士班
ISBN:
精裝 贈送
中國圖書分類法:
IE-99
應用模糊失效模式與效應分析於半導體晶圓製程之研究 = Applying fuzzy failure mode and effects analysis on the process of semiconductor foundry
陳, 隆壹
應用模糊失效模式與效應分析於半導體晶圓製程之研究
= Applying fuzzy failure mode and effects analysis on the process of semiconductor foundry / 陳隆壹 撰 - 初版. - 彰化縣大村鄉 : 大葉大學, 2010. - 85葉 ; 圖, 表 ; 30x22公分.
參考書目 : 葉71-78.
工業工程
應用模糊失效模式與效應分析於半導體晶圓製程之研究 = Applying fuzzy failure mode and effects analysis on the process of semiconductor foundry
LDR
:00736nam1 2200205 450
001
321503
010
0
$b
精裝
$d
贈送
100
$a
20100805d m y0chib
101
0
$a
chi
102
$a
tw
105
$a
200
1
$a
應用模糊失效模式與效應分析於半導體晶圓製程之研究
$f
陳隆壹 撰
$d
Applying fuzzy failure mode and effects analysis on the process of semiconductor foundry
205
$a
初版
210
$a
彰化縣大村鄉
$c
大葉大學
$d
2010
215
0
$a
85葉
$d
30x22公分
$c
圖, 表
314
$a
指導教授 : 葉子明, 黃開義
320
$a
參考書目 : 葉71-78
320
$a
含附錄
328
$a
碩士論文 : 大葉大學工業工程與科技管理學系碩士班
606
#
$a
工業工程
$2
csh
$3
337624
681
$a
IE-99
700
1
$a
陳
$b
隆壹
$4
撰
$3
345317
801
0
$a
tw
$b
DYU
$g
CCR
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全部
地下室密集書庫區
二樓博碩士學位論文區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
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館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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附件
80001571
地下室密集書庫區
3.不外借
碩士學位論文(校內)(master's thesis)
DT IE-99 7574
1.一般(Normal)
在架
0
80001572
二樓博碩士學位論文區
1.圖書流通
碩士學位論文(校內)(master's thesis)
DT IE-99 7574 C2
1.一般(Normal)
在架
0
2 筆 • 頁數 1 •
1
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