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使用次像素於精密檢測之研究

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侯東旭

使用次像素於精密檢測之研究

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	侯東旭
其他團體作者:	國立雲林科技大學工理系暨工業工
出版地:	台北市
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
面頁冊數:	82頁 : 11x15公分;
標題:	工業工程與管理 -
附註:	NSC86-2213-E224-016

使用次像素於精密檢測之研究
侯東旭

使用次像素於精密檢測之研究 / 侯東旭撰 ; 國立雲林科技大學工理系暨工業工 - 台北市 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 - 82頁 ; 11x15公分.
NSC86-2213-E224-016.
工業工程與管理

使用次像素於精密檢測之研究
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館藏

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1

典藏地名稱

館藏流通類別

804440000000635

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 440 2754

1.一般(Normal)

在架

0

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