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利用調制光譜研究半導體及半導體微細節夠的特性(Ⅲ)

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國立台灣科技大學電子工程學系

利用調制光譜研究半導體及半導體微細節夠的特性(Ⅲ)

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	黃鶯聲
其他團體作者:	國立台灣科技大學電子工程學系
出版地:	台北市
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
面頁冊數:	41頁 : 11x15公分;
標題:	電子工程 -
附註:	NSC85-2215-E011-001

利用調制光譜研究半導體及半導體微細節夠的特性(Ⅲ)
黃鶯聲

利用調制光譜研究半導體及半導體微細節夠的特性(Ⅲ) / 黃鶯聲撰 ; 國立台灣科技大學電子工程學系 - 台北市 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 - 41頁 ; 11x15公分.
NSC85-2215-E011-001.
電子工程

利用調制光譜研究半導體及半導體微細節夠的特性(Ⅲ)
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

804621381000407

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 621.381 4494-A

1.一般(Normal)

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