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良率分析應用於動態隨機存取記憶體中區域分割及修復電路之研究

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唐麗英

良率分析應用於動態隨機存取記憶體中區域分割及修復電路之研究

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	唐麗英
其他團體作者:	國立交通大學工業工程與管理學系
出版地:	台北市
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
面頁冊數:	58頁 : 11x15公分;
標題:	工業工程 -
附註:	NSC85-2213-E009-129

良率分析應用於動態隨機存取記憶體中區域分割及修復電路之研究
唐麗英

良率分析應用於動態隨機存取記憶體中區域分割及修復電路之研究 / 唐麗英撰 ; 國立交通大學工業工程與管理學系 - 台北市 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 - 58頁 ; 11x15公分.
NSC85-2213-E009-129.
工業工程

良率分析應用於動態隨機存取記憶體中區域分割及修復電路之研究
LDR:00435nhm 2200133 450 001 301653
009 9105697
100 $a 20100608 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 良率分析應用於動態隨機存取記憶體中區域分割及修復電路之研究 $f 唐麗英撰 $g 國立交通大學工業工程與管理學系
210 $a 台北市 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心
215 $a 58頁 $d 11x15公分
300 $a NSC85-2213-E009-129
606 $a 工業工程 $3 15175
700 $a 唐麗英 $4 撰 $3 40487
712 $a 國立交通大學工業工程與管理學系 $3 90745
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20020206

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

804440000000572

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 440 0014-1

1.一般(Normal)

在架

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