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全像檢測物體三維形變之研究

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國立中央大學光電科學研究中心

全像檢測物體三維形變之研究

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	張明文
其他團體作者:	國立中央大學光電科學研究中心
出版地:	台北市
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
面頁冊數:	54頁 : 11x15公分;
標題:	電子工程 -
附註:	NSC85-2215-E008-009

全像檢測物體三維形變之研究
張明文

全像檢測物體三維形變之研究 / 張明文撰 ; 國立中央大學光電科學研究中心 - 台北市 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 - 54頁 ; 11x15公分.
NSC85-2215-E008-009.
電子工程

全像檢測物體三維形變之研究
LDR:00384nhm 2200133 450 001 299475
009 9102593
100 $a 20100608 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 全像檢測物體三維形變之研究 $f 張明文撰 $g 國立中央大學光電科學研究中心
210 $a 台北市 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心
215 $a 54頁 $d 11x15公分
300 $a NSC85-2215-E008-009
606 $a 電子工程 $3 505
700 $a 張明文 $4 撰 $3 43944
712 $a 國立中央大學光電科學研究中心 $3 325976
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20020121

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

804337800000099

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 337.8 1160

1.一般(Normal)

在架

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