大葉大學圖書館 |

語系: 繁體中文

說明(常見問題)

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

模糊邏輯失效模式與效應分析於半導體封裝測試廠之應用

~

中華大學工業工程與管理所

模糊邏輯失效模式與效應分析於半導體封裝測試廠之應用

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	許惠玲
其他團體作者:	中華大學工業工程與管理所
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
面頁冊數:	87頁 : 11x15公分;
標題:	工業工程 -
附註:	MOE88-1110-8703502

模糊邏輯失效模式與效應分析於半導體封裝測試廠之應用
許惠玲

模糊邏輯失效模式與效應分析於半導體封裝測試廠之應用 / 許惠玲撰 ; 中華大學工業工程與管理所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 87頁 ; 11x15公分.
MOE88-1110-8703502.
工業工程

模糊邏輯失效模式與效應分析於半導體封裝測試廠之應用
LDR:00416nhm 2200133 450 001 296901
009 9213823
100 $a 20100608d1999 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 模糊邏輯失效模式與效應分析於半導體封裝測試廠之應用 $f 許惠玲撰 $g 中華大學工業工程與管理所
210 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 $d 1999
215 $a 87頁 $d 11x15公分
300 $a MOE88-1110-8703502
606 $a 工業工程 $3 15175
700 $a 許惠玲 $4 撰 $3 317105
712 $a 中華大學工業工程與管理所 $3 324316
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20030601

筆 0 讀者評論

館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

833440000001566

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 440 0851

1.一般(Normal)

限閱(視聽區)

0

1 筆 • 頁數 1 •
1

評論

新增評論分享你的心得

Export

取書館別

變更密碼

登入