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一個六千四百萬位元DRAM產品的故障分析案例及測試規格設定研究

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中華大學電機工程所

一個六千四百萬位元DRAM產品的故障分析案例及測試規格設定研究

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	高金德
其他團體作者:	中華大學電機工程所
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
面頁冊數:	36頁 : 11x15公分;
標題:	電機工程 -
附註:	MOE88-1110-8701539

一個六千四百萬位元DRAM產品的故障分析案例及測試規格設定研究
高金德

一個六千四百萬位元DRAM產品的故障分析案例及測試規格設定研究 / 高金德撰 ; 中華大學電機工程所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 36頁 ; 11x15公分.
MOE88-1110-8701539.
電機工程

一個六千四百萬位元DRAM產品的故障分析案例及測試規格設定研究
LDR:00417nhm 2200133 450 001 296877
009 9213798
100 $a 20100608d1999 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 一個六千四百萬位元DRAM產品的故障分析案例及測試規格設定研究 $f 高金德撰 $g 中華大學電機工程所
210 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 $d 1999
215 $a 36頁 $d 11x15公分
300 $a MOE88-1110-8701539
606 $a 電機工程 $3 9918
700 $a 高金德 $4 撰 $3 324363
712 $a 中華大學電機工程所 $3 324322
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20030601

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833448000003425

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448 0082-A

1.一般(Normal)

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