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晶片印字瑕疵檢測之研究

~

中原大學工業工程所

晶片印字瑕疵檢測之研究

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	曾健維
其他團體作者:	中原大學工業工程所
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
面頁冊數:	119頁 : 11x15公分;
標題:	工業工程 -
附註:	MOE88-1004-8774005

晶片印字瑕疵檢測之研究
曾健維

晶片印字瑕疵檢測之研究 / 曾健維撰 ; 中原大學工業工程所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 119頁 ; 11x15公分.
MOE88-1004-8774005.
工業工程

晶片印字瑕疵檢測之研究
LDR:00366nhm 2200133 450 001 295556
009 9212477
100 $a 20100608d1999 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 晶片印字瑕疵檢測之研究 $f 曾健維撰 $g 中原大學工業工程所
210 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 $d 1999
215 $a 119頁 $d 11x15公分
300 $a MOE88-1004-8774005
606 $a 工業工程 $3 15175
700 $a 曾健維 $4 撰 $3 323206
712 $a 中原大學工業工程所 $3 323040
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20030515

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館藏

2 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

833440000001447

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 440 8022-A V1

1.一般(Normal)

限閱(視聽區)

0

833440000001448

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 440 8022-A V2

1.一般(Normal)

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0

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