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利用X光繞射測量及X光視角反射測量決定Ni/Pt/Si(001)的結構參數

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彰化師範大學物理所

利用X光繞射測量及X光視角反射測量決定Ni/Pt/Si(001)的結構參數

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	王□雯
其他團體作者:	彰化師範大學物理所
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
面頁冊數:	63頁 : 11x15公分;
標題:	物理 -
附註:	MOE88-0015-8722205

利用X光繞射測量及X光視角反射測量決定Ni/Pt/Si(001)的結構參數
王□雯

利用X光繞射測量及X光視角反射測量決定Ni/Pt/Si(001)的結構參數 / 王□雯撰 ; 彰化師範大學物理所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 63頁 ; 11x15公分.
MOE88-0015-8722205.
物理

利用X光繞射測量及X光視角反射測量決定Ni/Pt/Si(001)的結構參數
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833524360000428

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 524.36 1010

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