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液晶薄膜光學條紋分析及比熱量測
~
中央大學物理所
液晶薄膜光學條紋分析及比熱量測
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
吳品鈞
其他團體作者:
中央大學物理所
出版者:
行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:
1999
面頁冊數:
109頁 : 11x15公分;
標題:
物理 -
附註:
MOE88-0008-87222021
液晶薄膜光學條紋分析及比熱量測
吳品鈞
液晶薄膜光學條紋分析及比熱量測
/ 吳品鈞 撰 ; 中央大學物理所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 109頁 ; 11x15公分.
MOE88-0008-87222021.
物理
液晶薄膜光學條紋分析及比熱量測
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20030319
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三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
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索書號
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借閱狀態
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833330000000616
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 330 2668 V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
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833330000000617
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 330 2668 V2
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