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以旋光外差干涉術測量雙折射晶體之尋常光及非尋常光折射率

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交通大學光電工程所

以旋光外差干涉術測量雙折射晶體之尋常光及非尋常光折射率

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	游展汶
其他團體作者:	交通大學光電工程所
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
面頁冊數:	70頁 : 11x15公分;
標題:	電子工程 -
附註:	MOE88-0007-8724511

以旋光外差干涉術測量雙折射晶體之尋常光及非尋常光折射率
游展汶

以旋光外差干涉術測量雙折射晶體之尋常光及非尋常光折射率 / 游展汶撰 ; 交通大學光電工程所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 70頁 ; 11x15公分.
MOE88-0007-8724511.
電子工程

以旋光外差干涉術測量雙折射晶體之尋常光及非尋常光折射率
LDR:00413nhm 2200133 450 001 291517
009 9205537
100 $a 20100608d1999 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 以旋光外差干涉術測量雙折射晶體之尋常光及非尋常光折射率 $f 游展汶撰 $g 交通大學光電工程所
210 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 $d 1999
215 $a 70頁 $d 11x15公分
300 $a MOE88-0007-8724511
606 $a 電子工程 $3 505
700 $a 游展汶 $4 撰 $3 319795
712 $a 交通大學光電工程所 $3 319160
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20030313

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833448600001158

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448.6 3873

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