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深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
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交通大學電子工程所
深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
黃煥宗
其他團體作者:
交通大學電子工程所
出版者:
行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:
1999
面頁冊數:
145頁 : 11x15公分;
標題:
電子工程 -
附註:
MOE88-0007-8311804-D
深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
黃煥宗
深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
/ 黃煥宗 撰 ; 交通大學電子工程所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 145頁 ; 11x15公分.
MOE88-0007-8311804-D.
電子工程
深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
LDR
:00432nhm 2200133 450
001
290771
009
9204789
100
$a
20100608d1999 0chiy0900 e
101
$a
chi
102
$a
tw
200
1
$a
深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
$f
黃煥宗 撰
$g
交通大學電子工程所
210
$c
行政院國家科學委員會科學技術資料中心
$d
1999
215
$a
145頁
$d
11x15公分
300
$a
MOE88-0007-8311804-D
606
$a
電子工程
$3
505
700
$a
黃煥宗
$4
撰
$3
319194
712
$a
交通大學電子工程所
$3
319146
801
1
$a
TW
$b
大葉大學
$c
20030304
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三樓視聽資料區
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0
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1.一般(Normal)
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0
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