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半導體記憶體的鄰近區域樣型敏感錯誤測試

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清華大學電機工程所

半導體記憶體的鄰近區域樣型敏感錯誤測試

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	鄭國良
其他團體作者:	清華大學電機工程所
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
面頁冊數:	62頁 : 11x15公分;
標題:	電機工程 -
附註:	MOE88-0002-873943

半導體記憶體的鄰近區域樣型敏感錯誤測試
鄭國良

半導體記憶體的鄰近區域樣型敏感錯誤測試 / 鄭國良撰 ; 清華大學電機工程所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 62頁 ; 11x15公分.
MOE88-0002-873943.
電機工程

半導體記憶體的鄰近區域樣型敏感錯誤測試
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典藏地名稱

館藏流通類別

833448000002309

三樓視聽資料區

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微縮資料(microform)

MF 448 8763

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