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可程式化邏輯陣列之測試及錯誤診斷技術

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林育聖

可程式化邏輯陣列之測試及錯誤診斷技術

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:	林育聖
出版地:	彰化縣
出版者:	大葉大學電機工程學系所;
出版年:	2003
版本:	初版
面頁冊數:	72頁 : 30x22公分;
標題:	機械工程 -
附註:	洪進華，程仲勝指導

可程式化邏輯陣列之測試及錯誤診斷技術
林育聖

可程式化邏輯陣列之測試及錯誤診斷技術 / 林育聖撰 - 初版. - 彰化縣 : 大葉大學電機工程學系所, 2003. - 72頁 ; 30x22公分.
洪進華，程仲勝指導.
機械工程

可程式化邏輯陣列之測試及錯誤診斷技術
LDR:00401nam 2200145 450 001 287406
009 9223473
100 $a 20100608d2003 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 可程式化邏輯陣列之測試及錯誤診斷技術 $f 林育聖撰
205 $a 初版
210 $a 彰化縣 $c 大葉大學電機工程學系所 $d 2003
215 $a 72頁 $d 30x22公分
300 $a 洪進華，程仲勝指導
606 $a 機械工程 $3 15001
700 $a 林育聖 $4 撰 $3 117248
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20031027

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館藏

2 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

820448000000298

地下室密集書庫區

3.不外借

碩士學位論文(校內)(master's thesis)

DT EE-92 4401

1.一般(Normal)

在架

0

820448000000299

二樓博碩士學位論文區

1.圖書流通

碩士學位論文(校內)(master's thesis)

DT EE-92 4401 C2

1.一般(Normal)

在架

0

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