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邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度

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McCluskey,Edward J.

邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:	McCluskey,Edward J.
其他作者:	林正中
出版地:	台北市
出版者:	新智出版社有限公司;
出版年:	1988
版本:	初版
面頁冊數:	595頁 : 24x17公分;
標題:	電路 -
附註:	譯自: Logic design principles : with emphasis on testable semicustom circuits

邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度
McCluskey,Edward J.

邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度 / McCluskey,Edward J. 著 ; 林正中譯 - 初版. - 台北市 : 新智出版社有限公司, 1988. - 595頁 ; 24x17公分.
譯自: Logic design principles : with emphasis on testable semicustom circuits.
電路

林正中

邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度
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210 $a 台北市 $c 新智出版社有限公司 $d 1988
215 $a 595頁 $d 24x17公分
300 $a 譯自: Logic design principles : with emphasis on testable semicustom circuits
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702 $a 林正中 $4 譯 $3 310802
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20071112

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

801471540000023

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圖書(book)

471.54 M132

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